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電壓擊穿試驗(yàn)儀為何交流電壓下測(cè)得的擊穿電壓比直流低的疑問(wèn)。 （銷售體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀）

在交變電場(chǎng)下介電系數(shù)是電場(chǎng)頻率的函數(shù)，當(dāng)電場(chǎng)頻率小時(shí)，介電損耗就小，電場(chǎng)頻率高時(shí)，介電損耗就高，就越易被擊穿，請(qǐng)參看德拜方程；  而
直流
電壓
下，電場(chǎng)不發(fā)作改變，這時(shí)相當(dāng)于靜電場(chǎng)中的介電狀況，電介質(zhì)的極化強(qiáng)度隨外電場(chǎng)強(qiáng)度E加大而增高，并取決于資料的相對(duì)介電系數(shù)，而無(wú)介質(zhì)損耗發(fā)作，所以交流電壓下測(cè)得的擊穿電壓比直流低。
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